E-Book (pdf) Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse von Günther von Bünau
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Inhalt
Apparatur.- Allgemeines zur Sekundärionenerzeugung.- Sekundärionenausbeute.- Nachweisempfindlichkeit.- Hochauflösung.- Fragmentierung organischer Verbindungen.- Schlußbemerkung.- Literatur.
Titel
Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Autor
Günther von Bünau
EAN
9783322875280
Format
E-Book (pdf)
Hersteller
VS Verlag für Sozialwissenschaften
Genre
Sonstiges Sozialwissenschaften, Recht, Wirtschaft
Veröffentlichung
27.11.2013
Digitaler Kopierschutz
Wasserzeichen
Anzahl Seiten
23
Lesemotiv
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