Inhalt
1 Die elastizitätstheoretischen und optischen Grundlagen.- 1.1 Verschiebungen und Verzerrungen am festen Körper.- 1.2 Spannungen am festen Körper.- 1.3 Zusammenhang zwischen Verzerrungen und Spannungen.- 1.4 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes in der Ebene.- 1.41 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes in rechtwinkligen Koordinaten.- 1.42 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes entlang von Spannungstrajektorien.- 15 Licht als Querwelle. Reflexion und Brechung.- 1.6 Gewö hnliches und polarisiertes Licht.- 1.7 Die Erzeugung von polarisiertem Licht.- 1.8 Linear, zirkular und elliptisch polarisiertes Licht.- 1.9 Grundsätzlicher Aufbau und Wirkungsweise von gekreuzten Polarisatoren.- 1.10 Optisch aktive Stoffe, elektrische Doppelbrechung und Spannungsdoppelbrechung.- 1.101 Optisch aktive Stoffe.- 1.102 Elektrische Doppelbrechung.- 1.103 Spannungsdoppelbrechung.- 2 Die spannungsoptische Grundausrüstung.- 2.1 Zusammenstellung verschiedener Polariskope.- 2.2 Die einfache spannungsoptische Anparatur.- 2.3 Zur physikalischen, photographischen und mechanischen Grundausrüstung eines spannungsoptischen Laboratoriums.- 2.31 Die eigentlichen Meßgeräte.- 2.32 Hilfsmittel zur Durchführung der Versuche.- 2.33 Photographische Aufnahmen (Dunkelkammer).- 2.34 Versuchsvorbereitung und Modellherstellung (Werkstatt).- 3 Das spannungsoptische Grundgesetz in zwei Dimensionen.- 3.1 Wirkung einer doppelbrechenden Platte zwischen gekreuzten Polarisatoren.- 3.11 Doppelbrechende Platte in linear polarisiertem Licht.- 3.12 Doppelbrechende Platte in zirkular polarisiertem Licht.- 3.2 Zeitliche Doppelbrechung.- 3.3 Isochromaten (Farbgleich en) und Isoklinen (Richtungsgleichen).- 3.4 Die spannungsoptische Konstante und ihre experimentelle Bestimmung.- 3.41 Eichung imBiegeversuch.- 3.42 Eichung im Zugversuch.- 3.43 Eichung im Druckversuch.- 3.5 Zur Modelldicke.- 3.6 Einfarbiges und weißes Licht.- 4 Isochromaten.- 4.1 Allgemeine Betrachtungen.- 4.2 Isochromaten als Linien gleicher Hauptspannungsdifferenz und allgemeine Bestimmung der Isochromatenordnung.- 4.3 Isochromaten an lastfreien Rändern.- 4.4 Singuläre und isotrope Punkte.- 4.5 Einige einfache ebene Spannungszustände.- 4.51 Reiner Zug in Stäben.- 4.52 Reiner Druck in Stäben.- 4.53 Reine Biegung.- 4.54 Biegung mit Querkraft.- 4.55 Einzelkraft auf einseitig begrenzter Halbebene.- 4.56 Flächenhafter Kraftangriff auf Halbebene.- 4.57 Platte unter symmetrischer Druckbeanspruchung parallel zur Plattenebene.- 4.58 Gelochter Zugstab.- 4.59 Der zweiseitig gekerbte Zugstab.- 4.510 Der zwei- und einseitig gekerbte Biegestab.- 4.511 Abgesetzter Stab unter Biegebeanspruchung.- 4.512 Träger mit rechteckigem und dreieckigem Querschnitt.- 4.513 Haken.- 4.514 Schaufelfüße.- 4.515 Paßstück in Nut.- 4.516 Momentennullpunkte.- 4.6 Bestimmung der Isochromatenordnung.- 4.61 Allgemeines.- 4.62 Bestimmung der Isochromatenordnung durch einfaches Abzählen (monochromatisches Licht).- 4.63 Bestimmung der Isochromatenordnung aus der Farbe bei V erwendung von weißem Licht.- 4.64 Kompensation mittels Viertelwellenplatten und Polarisator Analvsator.- 4.641 Allgemeines.- 4.642 Kompensation nach Sénarmont.- 4.642 Kompennsation naeh Tardy.- 4.65 Zug-, Kompression- und Biegekompensatoren.- 4.66 Kompensatoren nach Emuwonavs und Berem.- 4.67 Kompensator nach Brace-Köhler.- 4.68 Kompensatoren nach Babinet und Babinet-Soleil.- 4.69 Kompensation mit Interferometer-Einrichtung.- 4.7 Die Nagelprobe zur Bestimmung der Richtung von Grenzspannungen.- 4.8 Zur Verschärfnng und VervielfaChung vonISOchrOmatenn.- 4.81 Isochromatenverschärfung.- 4.82 Isochromatenvervielfachung.- 5 Isoklinen und Hauptspannungslinien.- 5.1 Isoklinen als Linien gleicher Hauptspannungsrichtungen.- 5.2 Die spannungsoptische Bestimmung der Isoklinen.- 5.3 Gren z bedingungen an lastfreien Rändern.- 5.4 Isoklinen bei symmetrischer Form und Belastung.- 5.5 Isoklinen an schubfreien Punkten.- 5.6 Konstruktion der Hauptspannungslinien aus den Isoklinen.- 5.7 Allgemeine Bemerkungen über Hauptspannungslinien.- 5.8 Einige einfache Beispiele von Isoklinen und Hauptsnannungslinien.- 5.81 Die durch Einzellast senkrecht belastete Halbebene.- 5.82 Die durch rechteckigen Belastungsstreifen senkrecht beanspruchte Halbebene.- 5.83 Platte mit zwei symmetrischen Kräften in der Plattenebene.- 5.84 Platte mit vier symmetrischen gleich großen Kräften in der Plattenebene.- 5.85 Der zweiseitig gekerbte Biegestab.- 5.86 Träger mit rechteckigem und dreieckigem Querschnitt.- 5.87 Isoklinen und Hauptspannungslinien beim einfachen Hammerkopffuß.- 6 Die wichtigsten Verfahren zur Bestimmung ebener Spannungszustände.- 6.1 Allgemeines zur Ermittlungen der einzelnen Haupts pannungen.- 6.2 Auswertungsverfahren nach Cokerund Filon.- 6.3 Das Schubspannungsdifferenzverfahren.- 6.31 Zur Ermittlung der Schubspannungen.- 6.32 Ermittlung der Normalspannungen ?xund ?y längs eines geraden Schnittes.- 6.321 Normalspannung ?x.- 6.322 Normalspannung ?y.- 6.33 Rechenschema.- 6.34 Eine Methode zur genauen Bestimmung von % MathType!MTEF!2!1!+- % feaaguart1ev2aaatCvAUfeBSjuyZL2yd9gzLbvyNv2CaerbuLwBLn % hiov2DGi1BTfMBaeXatLxBI9gBaerbd9wDYLwzYbItLDharqqtubsr % 4rNCHbGeaGqiVu0Je9sqqrpepC0xbbL8F4rqqrFfpeea0xe9Lq-Jc9 % vqaqpepm0xbba9pwe9Q8fs0-yqaqpepae9pg0FirpepeKkFr0xfr-x %fr-xb9adbaqaaeGaciGaaiaabeqaamaabaabaaGcbaWaaSaaaeaacq % GHciITcqaHepaDaeaacqGHciITcaWG5baaaaaa!3B91! $$ \frac{{\partial \tau }}{{\partial y}} $$.- 6.4 Auswertungsverfahren für symmetrische Probleme nach M. M. Frocht.- 6.41 Die grundlegenden Voraussetzungen und Zusammenhänge bei symmetrischen Problemen.- 6.42 Angenäherte Konstruktion der p, q-Kurven über einem Symmetriequerschnitt.- 6.5 Das Neubersche Verfahren.- 6.51 Einleitung.- 6.52 Bezeichnungen.- 6.53 Die Ausgangsgleichungen.- 6.54 Vereinfachungen durch allgemeine Beziehungen.- 6.55 Die Neuberschen Gleichungen.- 6.56 Graphische Bestimmung der Isopachenkurven aus den Neuberschen Gleichungen.- 6.561 Bestimmung der Isopachenrichtung im Innern eines Modells.- 6.562 Bestimmung der Isopachen am Rand.- 6.563 Abstand der Isopachen.- 6.57 Allgemeine Eigenschaften der Isopachen.- 6.58 Isopachen am Rand.- 6.59 Isopachen an singulären Punkten und Asymptoten.- 6.6 Verfahren, die auf der unmittelbaren Messung von (?1 + ?2) bzw. der einzelnen Hauptspannungen ?1und ?2beruhen.- 6.61 Grundsätzliches über die Theorie und Anwendung der Lateralextensometer.- 6.62 Mechanische Lateralextensometer.- 6.63 Elektrische Lateralextensometer.- 6.631 Dickenmessung mit Hilfe von Dehnungsmeßstreifen.- 6.632 Dickenmessung mit Hilfe von induktiven Gebern.- 6.64 Interferenzoptische Verfahren.- 6.641 Optische Lateralextensometer.- 6.642 Allgemeines zur experimetellen Bestimmung der Isopachen.- 6.643 Verschiedene Verfahren der Isopachenbestimmung im durchgehenden Licht.- 6.644 Überblick über die Isopachenbestimmung durch Reflexion.- 6.645 Das Verfahren von A. Doseund R. Landwehr.- 6.645.1 Die Voraussetzungen und Grundlagen des Verfahrens.- 6.645.2 Versuchsaufbau.- 6.645.3 Modellmaterial.- 6.645.4 Modellherstellung und Modellbelastung.-6.645.5 Zur punktweisen experimentellen Bestimmung der Isopachen.- 6.645.6 Bestimmung der Isopachen über dem ganzen Feld.- 6.646 Zur direkten Bestimmung der einzelnen Hauptspannungen af interferenzoptischem Wege nach D. Post.- 6.646.1 Überblick.- 6.646.2 Die theoretischen Grundlagen des Verfahrens.- 6.646.3 Zur Versuchstechnik.- 6.65 Photometrisches DickenmeBverfahren zur Ermittlung der Hauptspannungssumme bei ebenen Modellen.- 6.66 Membran-Analogie 20.- 6.67 Elektrische Analogieverfahren.- 6.68 Bestimmung der einzelnen Hauptspannungen durch das Anbohroder Lochverfahren bzw. das Einschlußverfahren.- 6.69 Das Moiré-Verfahren.- 6.7 Numerische Methoden zur Lösung der Laplaceschen Gleichung und damit Bestimmung von (?1 + ?2).- 6.71 Allgemeine Betrachtungen zur numerischen Lösung der Laplaceschen Gleichung.- 6.72 Die grundlegenden Zusammenhänge.- 6.73 Die Methode der Iteration.- 6.731 Rechtwinkelig…
1 Die elastizitätstheoretischen und optischen Grundlagen.- 1.1 Verschiebungen und Verzerrungen am festen Körper.- 1.2 Spannungen am festen Körper.- 1.3 Zusammenhang zwischen Verzerrungen und Spannungen.- 1.4 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes in der Ebene.- 1.41 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes in rechtwinkligen Koordinaten.- 1.42 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes entlang von Spannungstrajektorien.- 15 Licht als Querwelle. Reflexion und Brechung.- 1.6 Gewö hnliches und polarisiertes Licht.- 1.7 Die Erzeugung von polarisiertem Licht.- 1.8 Linear, zirkular und elliptisch polarisiertes Licht.- 1.9 Grundsätzlicher Aufbau und Wirkungsweise von gekreuzten Polarisatoren.- 1.10 Optisch aktive Stoffe, elektrische Doppelbrechung und Spannungsdoppelbrechung.- 1.101 Optisch aktive Stoffe.- 1.102 Elektrische Doppelbrechung.- 1.103 Spannungsdoppelbrechung.- 2 Die spannungsoptische Grundausrüstung.- 2.1 Zusammenstellung verschiedener Polariskope.- 2.2 Die einfache spannungsoptische Anparatur.- 2.3 Zur physikalischen, photographischen und mechanischen Grundausrüstung eines spannungsoptischen Laboratoriums.- 2.31 Die eigentlichen Meßgeräte.- 2.32 Hilfsmittel zur Durchführung der Versuche.- 2.33 Photographische Aufnahmen (Dunkelkammer).- 2.34 Versuchsvorbereitung und Modellherstellung (Werkstatt).- 3 Das spannungsoptische Grundgesetz in zwei Dimensionen.- 3.1 Wirkung einer doppelbrechenden Platte zwischen gekreuzten Polarisatoren.- 3.11 Doppelbrechende Platte in linear polarisiertem Licht.- 3.12 Doppelbrechende Platte in zirkular polarisiertem Licht.- 3.2 Zeitliche Doppelbrechung.- 3.3 Isochromaten (Farbgleich en) und Isoklinen (Richtungsgleichen).- 3.4 Die spannungsoptische Konstante und ihre experimentelle Bestimmung.- 3.41 Eichung imBiegeversuch.- 3.42 Eichung im Zugversuch.- 3.43 Eichung im Druckversuch.- 3.5 Zur Modelldicke.- 3.6 Einfarbiges und weißes Licht.- 4 Isochromaten.- 4.1 Allgemeine Betrachtungen.- 4.2 Isochromaten als Linien gleicher Hauptspannungsdifferenz und allgemeine Bestimmung der Isochromatenordnung.- 4.3 Isochromaten an lastfreien Rändern.- 4.4 Singuläre und isotrope Punkte.- 4.5 Einige einfache ebene Spannungszustände.- 4.51 Reiner Zug in Stäben.- 4.52 Reiner Druck in Stäben.- 4.53 Reine Biegung.- 4.54 Biegung mit Querkraft.- 4.55 Einzelkraft auf einseitig begrenzter Halbebene.- 4.56 Flächenhafter Kraftangriff auf Halbebene.- 4.57 Platte unter symmetrischer Druckbeanspruchung parallel zur Plattenebene.- 4.58 Gelochter Zugstab.- 4.59 Der zweiseitig gekerbte Zugstab.- 4.510 Der zwei- und einseitig gekerbte Biegestab.- 4.511 Abgesetzter Stab unter Biegebeanspruchung.- 4.512 Träger mit rechteckigem und dreieckigem Querschnitt.- 4.513 Haken.- 4.514 Schaufelfüße.- 4.515 Paßstück in Nut.- 4.516 Momentennullpunkte.- 4.6 Bestimmung der Isochromatenordnung.- 4.61 Allgemeines.- 4.62 Bestimmung der Isochromatenordnung durch einfaches Abzählen (monochromatisches Licht).- 4.63 Bestimmung der Isochromatenordnung aus der Farbe bei V erwendung von weißem Licht.- 4.64 Kompensation mittels Viertelwellenplatten und Polarisator Analvsator.- 4.641 Allgemeines.- 4.642 Kompensation nach Sénarmont.- 4.642 Kompennsation naeh Tardy.- 4.65 Zug-, Kompression- und Biegekompensatoren.- 4.66 Kompensatoren nach Emuwonavs und Berem.- 4.67 Kompensator nach Brace-Köhler.- 4.68 Kompensatoren nach Babinet und Babinet-Soleil.- 4.69 Kompensation mit Interferometer-Einrichtung.- 4.7 Die Nagelprobe zur Bestimmung der Richtung von Grenzspannungen.- 4.8 Zur Verschärfnng und VervielfaChung vonISOchrOmatenn.- 4.81 Isochromatenverschärfung.- 4.82 Isochromatenvervielfachung.- 5 Isoklinen und Hauptspannungslinien.- 5.1 Isoklinen als Linien gleicher Hauptspannungsrichtungen.- 5.2 Die spannungsoptische Bestimmung der Isoklinen.- 5.3 Gren z bedingungen an lastfreien Rändern.- 5.4 Isoklinen bei symmetrischer Form und Belastung.- 5.5 Isoklinen an schubfreien Punkten.- 5.6 Konstruktion der Hauptspannungslinien aus den Isoklinen.- 5.7 Allgemeine Bemerkungen über Hauptspannungslinien.- 5.8 Einige einfache Beispiele von Isoklinen und Hauptsnannungslinien.- 5.81 Die durch Einzellast senkrecht belastete Halbebene.- 5.82 Die durch rechteckigen Belastungsstreifen senkrecht beanspruchte Halbebene.- 5.83 Platte mit zwei symmetrischen Kräften in der Plattenebene.- 5.84 Platte mit vier symmetrischen gleich großen Kräften in der Plattenebene.- 5.85 Der zweiseitig gekerbte Biegestab.- 5.86 Träger mit rechteckigem und dreieckigem Querschnitt.- 5.87 Isoklinen und Hauptspannungslinien beim einfachen Hammerkopffuß.- 6 Die wichtigsten Verfahren zur Bestimmung ebener Spannungszustände.- 6.1 Allgemeines zur Ermittlungen der einzelnen Haupts pannungen.- 6.2 Auswertungsverfahren nach Cokerund Filon.- 6.3 Das Schubspannungsdifferenzverfahren.- 6.31 Zur Ermittlung der Schubspannungen.- 6.32 Ermittlung der Normalspannungen ?xund ?y längs eines geraden Schnittes.- 6.321 Normalspannung ?x.- 6.322 Normalspannung ?y.- 6.33 Rechenschema.- 6.34 Eine Methode zur genauen Bestimmung von % MathType!MTEF!2!1!+- % feaaguart1ev2aaatCvAUfeBSjuyZL2yd9gzLbvyNv2CaerbuLwBLn % hiov2DGi1BTfMBaeXatLxBI9gBaerbd9wDYLwzYbItLDharqqtubsr % 4rNCHbGeaGqiVu0Je9sqqrpepC0xbbL8F4rqqrFfpeea0xe9Lq-Jc9 % vqaqpepm0xbba9pwe9Q8fs0-yqaqpepae9pg0FirpepeKkFr0xfr-x %fr-xb9adbaqaaeGaciGaaiaabeqaamaabaabaaGcbaWaaSaaaeaacq % GHciITcqaHepaDaeaacqGHciITcaWG5baaaaaa!3B91! 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M. Frocht.- 6.41 Die grundlegenden Voraussetzungen und Zusammenhänge bei symmetrischen Problemen.- 6.42 Angenäherte Konstruktion der p, q-Kurven über einem Symmetriequerschnitt.- 6.5 Das Neubersche Verfahren.- 6.51 Einleitung.- 6.52 Bezeichnungen.- 6.53 Die Ausgangsgleichungen.- 6.54 Vereinfachungen durch allgemeine Beziehungen.- 6.55 Die Neuberschen Gleichungen.- 6.56 Graphische Bestimmung der Isopachenkurven aus den Neuberschen Gleichungen.- 6.561 Bestimmung der Isopachenrichtung im Innern eines Modells.- 6.562 Bestimmung der Isopachen am Rand.- 6.563 Abstand der Isopachen.- 6.57 Allgemeine Eigenschaften der Isopachen.- 6.58 Isopachen am Rand.- 6.59 Isopachen an singulären Punkten und Asymptoten.- 6.6 Verfahren, die auf der unmittelbaren Messung von (?1 + ?2) bzw. der einzelnen Hauptspannungen ?1und ?2beruhen.- 6.61 Grundsätzliches über die Theorie und Anwendung der Lateralextensometer.- 6.62 Mechanische Lateralextensometer.- 6.63 Elektrische Lateralextensometer.- 6.631 Dickenmessung mit Hilfe von Dehnungsmeßstreifen.- 6.632 Dickenmessung mit Hilfe von induktiven Gebern.- 6.64 Interferenzoptische Verfahren.- 6.641 Optische Lateralextensometer.- 6.642 Allgemeines zur experimetellen Bestimmung der Isopachen.- 6.643 Verschiedene Verfahren der Isopachenbestimmung im durchgehenden Licht.- 6.644 Überblick über die Isopachenbestimmung durch Reflexion.- 6.645 Das Verfahren von A. Doseund R. Landwehr.- 6.645.1 Die Voraussetzungen und Grundlagen des Verfahrens.- 6.645.2 Versuchsaufbau.- 6.645.3 Modellmaterial.- 6.645.4 Modellherstellung und Modellbelastung.-6.645.5 Zur punktweisen experimentellen Bestimmung der Isopachen.- 6.645.6 Bestimmung der Isopachen über dem ganzen Feld.- 6.646 Zur direkten Bestimmung der einzelnen Hauptspannungen af interferenzoptischem Wege nach D. Post.- 6.646.1 Überblick.- 6.646.2 Die theoretischen Grundlagen des Verfahrens.- 6.646.3 Zur Versuchstechnik.- 6.65 Photometrisches DickenmeBverfahren zur Ermittlung der Hauptspannungssumme bei ebenen Modellen.- 6.66 Membran-Analogie 20.- 6.67 Elektrische Analogieverfahren.- 6.68 Bestimmung der einzelnen Hauptspannungen durch das Anbohroder Lochverfahren bzw. das Einschlußverfahren.- 6.69 Das Moiré-Verfahren.- 6.7 Numerische Methoden zur Lösung der Laplaceschen Gleichung und damit Bestimmung von (?1 + ?2).- 6.71 Allgemeine Betrachtungen zur numerischen Lösung der Laplaceschen Gleichung.- 6.72 Die grundlegenden Zusammenhänge.- 6.73 Die Methode der Iteration.- 6.731 Rechtwinkelig…
Titel
Spannungsoptik
Untertitel
Ein Lehr- und Nachschlagebuch für Forschung, Technik und Unterricht
Autor
EAN
9783662002421
Format
E-Book (pdf)
Hersteller
Veröffentlichung
13.03.2013
Digitaler Kopierschutz
Wasserzeichen
Dateigrösse
60.57 MB
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